Máy phân tích bề mặt kính quang học
Taylor Hobson - CCI Optics
Hệ thống đo và phân tích bề mặt 3D không tiếp xúc CCI Optic được thiết kế đặc biệt cho các ứng dụng kiểm tra kính quang học dựa trên lý thuyết giao thoa sóng...
Gọi (+84) 283 894 0623 để được tư vấn.
Đặc Tính Kỹ Thuật
- Độ phân giải cao đến 2048 x 2048 pixel với góc quan sát rộng
- Độ phân giải 0.1 Å cho toàn bộ phạm vi đo
- Đo trên bề mặt phản xạ từ 0.3% đến 100% một cách dễ dàng
- Độ lặp lại hiệu dụng (RMS) <0.2 Å, Độ lặp lại trên mẫu bậc <0.1%
- Phần mềm điều khiển và phân tích 64-bit đa ngôn ngữ
Thông Số Kỹ Thuật
| Overview | |||
| Model | CCI Optics RM | CCI Optics AD | CCI Optics TF |
| Camera | 1M pixel | 1M pixel | 4M pixel |
| Camera upgrade (HS stitching) | Optional | Optional | Not available |
| Camera upgrade (4M pixel) | Optional | Optional | Not available |
| Roughness | Included | Included | Included |
| Step height | Optional | Optional | Optional |
| Super smooth | Included | Optional | Optional |
| TalyMap Lite | Optional | Included | Optional |
| TalyMap Gold | Optional | Optional | Optional |
| TalyMap Platinum | Optional | Optional | Optional |
| PSD | Optional | Optional | Optional |
| Aspheric analysis | Not available | Included | Optional |
| Diffractive aspheric analysis | Not available | Optional | Optional |
| Very low reflectivity surface (AR coated) | Optional | Optional | Included |
| Thick film analysis (>1.5 μm) | Not available | Not available | Optional |
| Film thickness (>50 nm) | Not available | Not available | Optional |
| Stitching | Optional | Optional | Optional |
| Multi-site | Optional | Optional | Optional |
| Standard lens | 20x | 10x | 10x |
| Other lenses | Optional | Optional | Optional |
| Joystick | Optional | Optional | Optional |
| 112 x 78 mm stage | Included | Included | Included |
| 156 x 156 mm stage | Optional | Optional | Optional |
| Internal AV | Included | Included | Included |
| Active AV | Not available | Not available | Optional |
