Máy phân tích bề mặt tốc độ cao
Taylor Hobson - CCI MP-HS
Lý tưởng cho việc nghiên cứu, CCI MP-HS đo tất cả các thông số bề mặt từ rất nhám đến rất bóng, cung cấp khả năng đo linh hoạt trên nhiều loại mẫu khác nhau
Gọi (+84) 283 894 0623 để được tư vấn.
Đặc Tính Kỹ Thuật
- Độ phân giải cao đến 1048 x 1048 pixel với góc quan sát rộng
- Công nghệ đính ghép hình ảnh cao cấp cho các trục X, Y và Z, mở rộng dải đo
- Độ lặp lại hiệu dụng (RMS) < 0.2 Å, Độ lặp lại trên mẫu bậc < 0.1%
- Tích hợp bàn chống rung, giảm thiểu các tín hiệu nhiễu tạp, tối ưu hóa hiệu suất cho hệ thống
- Phần mềm điều khiển và phân tích Windows 64-bit đa ngôn ngữ
Thông Số Kỹ Thuật
| Overview | |
| System | |
| Measurement type | 3D non-contact |
| Measurement mode | Coherence Correlation Interferometry (CCI) |
| Z scanner | Ultra high precision closed loop piezoless scanner |
| Objective mount | 3 position turret |
| X/Y Stage | Automatic |
| Z stage | Automatic |
| Performance | |
| Single scan range (Z) | 2.2 mm as standard (closed loop) |
| Z-stitching range | Up to the working distance of the lens (current maximum is 40 mm) |
| Z-resolution (max) | 0.01 nm |
| Noise floor (Z) | <0.05 nm [0.5 Å] |
| Repeatability of surface RMS | <0.01 nm [0.1 Å] |
| Number of measurement points | 1024 x 1024 |
| Step height repeatability | < 0.02 % |
| Surface reflectivity | <0.34 % - 100% |