GE - V|tome|x S

Hệ thống X-Ray kiểm tra cắt lớp

GE - V|tome|x S

Hệ thống chụp ảnh cắt lớp độ phân giải cao kiểm tra 2D và cắt lớp 3D với 2 lựa chọn ống phóng Micro CT và Nano CT. Ống phống với 2 lựa chọn: 180kV/15W và 240...

Đặc Tính Kỹ Thuật

  • Hệ thống kiểm tra Xray công nghệ CT phù hợp cho các ứng dụng nghiên cứu vật liệu, mẫu quặng, kiểm tra khuôn mẫu, chi tiết điện tử - bán dẫn, chi tiết cơ khí kim loại, lắp ráp phức tạp...
  • Kết hợp chụp ảnh X-ray kỹ thuật số 2D và công nghệ chụp ảnh cắt lớp CT 3D
  • Ống phát tia X-ray lưỡng cực 240kV/320W (hoặc 160KV/ 320W)
  • Độ phóng đại 2D: 1.46 -> 180 lần; Độ phóng đại 3D: 1.46 -> 100 lần
  • Kích thước nhỏ có thể phát hiện: 1μm; Độ phân giải 3D: < 2 μm
  • Kích thước mẫu kiểm tra tối đa (H x D): 420 mm x 260 mm ; Điều khiển trên 5 trục
  • Khối lượng mẫu kiểm tra tối đa: 10 kg
  • Chức năng tái tạo hình ảnh có kích thước và so sánh với bản vẽ CAD (Tùy chọn)

Sản phẩm cùng Danh mục

aE02OxSzYaW2HbcyJwEzV8dAOm9jnVowsEFJ0s4j.png

Hệ thống X-Ray kiểm tra cắt lớp

GE - Nanotom M

18.jpg

Hệ thống X-Ray kiểm tra cắt lớp

GE - Nanotom S

Kto7O4Z6tVwb3a847nl6zcInayIOkgHrz03KH0e4.png

Hệ thống X-Ray kiểm tra cắt lớp

GE - Nanome|x

rmvpFlF7H3LewYIiAHQcjgxYOecIfvyKpXr9MA40.jpeg

Hệ thống X-Ray kiểm tra cắt lớp

GE - X|aminer

Bạn quan tâm đến sản phẩm?
Cần báo giá sản phẩm hoặc thiết bị?

Hãy liên hệ với đội ngũ chuyên gia của chúng tôi để nhận được sự tư vấn miễn phí và chuyên nghiệp