Hệ thống X-Ray kiểm tra cắt lớp
GE - Nanome|x
Hệ thống với độ phân giải 0.5 μm, kích thước vật kiểm tra 680x635mm. Được thiết kế chuyên cho kiểm tra bo mạch điện tử, độ tương phản tốt với màn DXR250RT. T...
Gọi (+84) 283 894 0623 để được tư vấn.
Đặc Tính Kỹ Thuật
- Hệ thống kiểm tra X-ray tự động với độ phân giải cấp Nano sử dụng kiểm tra chi tiết cơ khí nhỏ và bo mạch trong công nghiệp bán dẫn và SMT...
- Độ phân giải đạt tới 200 nm
- Ống phát tia X công suất lớn Nanofocus 180kV/15W
- Độ phân giải hình ảnh kỹ thuật số đạt 2 megapixels (Tùy chọn 4 megapixels)
- Độ phóng đại (2D): 1970 lần; Độ phóng đại (3D): <300 l="" n="" span="">
- Góc quan sát có thể điều chỉnh: 0 -> 70 độ
- Kích thước kiểm tra mẫu tối đa 680 mm x 635 mm; Điều khiển trên 5 trục
- Khối lượng mẫu kiểm tra tối đa : 10 kg
- TÙY CHỌN chức năng nanoCT với khả năng quét CT chỉ trong 10s
- Hệ thống nhỏ gọn dạng cabin phù hợp cho mọi phòng thí nghiệm hoặc dây chuyền sản xuất
Ứng Dụng
- Kiểm tra chất lượng bo mạch điện tử nhiều lớp
- Kiểm tra cấu tạo của các chip BGA
- Kiểm tra chân của các linh kiện hàng vào bo mach: độ điền đầy, lõm chân, chưa ăn chân hàn...
- Được sử dụng trong các nhà máy sản xuất chip, bo mạch, và cần kiểm tra các chi tiết kim loại nhỏ và mỏng.
- Tất cả các ứng dụng được kiểm tra real time rất tốt
