Kiểm tra- Thử nghiệm

Máy phân tích lớp phủ model XStrata920 bằng phương pháp XRF

Máy phân tích lớp phủ XRF model XStrata920 được thiết kế để phân tích/ đo độ dày lớp phủ của một hay nhiều lớp - bao gồm cả lớp phủ hợp kim - trong ngành công nghiệp và điện tử. Xuất xứ: Hitachi Hightech - Oxford Instrument

     Máy đo độ dày lớp mạ XRF (Thiết bị quang phổ XRF, máy đo độ dày lớp mạ vàng, máy đo độ dày lớp mạ cho điện tử, máy đo độ dày lớp phủ) dựa trên phương pháp huỳnh quang tia X (XRF) là một kỹ thuật đã được chứng minh cung cấp kết quả phân tích nhanh, chính xác và không phá hủy.

     X-Strata 920 được thiết kế để đo lớp phủ đơn lớp và đa lớp - bao gồm các lớp phủ hợp kim - cho cả ngành công nghiệp hoàn thiện kim loại và điện tử. Các chuyên gia nghiên cứu ứng dụng của Hitachi đã tối ưu hóa X-Strata920 để đảm bảo bạn có được kết quả đáng tin cậy cho hàng trăm ứng dụng bao gồm hoàn thiện bề mặt PCB, lớp phủ xi mạ công nghiệp.

     X-Strata920 cung cấp kết quả chính xác và đáng tin cậy trong mỗi Micron.

Video demo được thực hiện bởi hãng Hitachi đo ứng dụng Au/Ni/Cu trên thiết bị Xstrata920

Liên hệ với chúng tôi để được nhân viên kỹ thuật hỗ trợ:

Trụ Sở Chính: 23 Nguyễn Thái Sơn (số mới là 209 Bạch Đằng), P.3, Quận Gò Vấp, Thành Phố Hồ Chí Minh

Điện Thoại: +84. 28.3894 0623 - Fax +84.28. 3985 3579

Địa chỉ: Phòng 306, Tòa nhà Licogi 13-B, 164 Khuất Duy Tiến, Quận Thanh Xuân, Tp. Hà Nội

ĐT: +84. 24. 3791 5881 Fax: +84. 24. 3791 5881

  • Phạm vi nguyên tố có thể phát hiện: Ti to U (PC Detector) hoặc AL to U (SDD Detector).
  • Số lớp & phần tử: khả năng đo tối đa 4 lớp phủ/ 1 lớp nền. Phân tích phổ của tối đa 25 nguyên tố cùng một lúc.
  • Nguồn Tia X: 50W.
  • Bộ đếm (Detector): PC hoặc SDD.
  • Collimator: Ống đơn hoặc đa (có thể được trang bị 1-6 ống collimator). Kích thước khác nhau đáp ứng theo yêu cầu từ khách hàng (minimum 0.025x0.05mm)
  • Focus: Lazer , lấy nét tốt hơn phương thức lấy nét bằng camera.
  • Bộ lọc thứ cấp: Tối đa 3 bộ lọc để hiệu chỉnh chồng chéo (Vanadi, Cobalt và Niken).(chỉ dành cho PC detector)
  • Xử lý xung kỹ thuật số: Máy phân tích đa kênh kỹ thuật số 4096 kênh. Xử lý tín hiệu tự động.
  • Camera quan sát: Có.
  • Phần mềm: SmartLink FP.
  • Ngôn ngữ: tiếng Anh, tiếng Trung (truyền thống và đơn giản hóa), tiếng Pháp, tiếng Đức, tiếng Tây Ban Nha, tiếng Nhật, tiếng Hàn, tiếng Ý, tiếng Séc và tiếng Nga
  • Máy tính: CPU Intel Core 2 Duo E7500 2,93 GHz; Đĩa cứng 500Gb, RAM 2Gb; DVDRW. Hệ điều hành Microsoft WindowsTM.
  • Nguồn cung cấp: 85 ~ 130 volt hoặc 215 ~ 265 volt, với dải tần từ 47Hz đến 63Hz.
  • Môi trường làm việc: 10 ° C (50 ° F) đến 40 ° C (104 ° F) và độ ẩm tương đối lên đến 98%, không ngưng tụ.
  • Cấu hình có sẵn: 
    Standard (cho các bộ phận có chiều cao mẫu 33 mm)
    Mini-Well (đối với các bộ phận có chiều cao mẫu 160 mm)
    X-Y Table: hành trình dịch chuyển: 178 mm x 178 mm.
    Trục Z di chuyển trên tất cả các cấu hình: 43 mm.
  • Kích thước (W x L x H): 
    Standard 407 x 770 x 305 mm.
    Mini-Well 407 x 770 x 400 mm.
    X-Y Table 610 x 1037 x 375 mm.
    Lưu ý: Kích thước trên không có PC và màn hình.
  • Trọng lượng: 97kg (không có PC và màn hình).
  • Máy đo độ dày lớp xi mạ
  • Đo nồng độ dung dịch mạ

Download File

STT
File Download
Sản Phẩm đã xem

Hệ thống đang xử lý, vui lòng chờ