Máy đo độ dày lớp mạ XRF (Thiết bị quang phổ XRF, máy đo độ dày lớp mạ vàng, máy đo độ dày lớp mạ cho điện tử, máy đo độ dày lớp phủ) dựa trên phương pháp huỳnh quang tia X (XRF) là một kỹ thuật đã được chứng minh cung cấp kết quả phân tích nhanh, chính xác và không phá hủy.
X-Strata 920 được thiết kế để đo lớp phủ đơn lớp và đa lớp - bao gồm các lớp phủ hợp kim - cho cả ngành công nghiệp hoàn thiện kim loại và điện tử. Các chuyên gia nghiên cứu ứng dụng của Hitachi đã tối ưu hóa X-Strata920 để đảm bảo bạn có được kết quả đáng tin cậy cho hàng trăm ứng dụng bao gồm hoàn thiện bề mặt PCB, lớp phủ xi mạ công nghiệp.
X-Strata920 cung cấp kết quả chính xác và đáng tin cậy trong mỗi Micron.
Video demo được thực hiện bởi hãng Hitachi đo ứng dụng Au/Ni/Cu trên thiết bị Xstrata920
Trụ Sở Chính: 23 Nguyễn Thái Sơn (số mới là 209 Bạch Đằng), P.3, Quận Gò Vấp, Thành Phố Hồ Chí Minh
Điện Thoại: +84. 28.3894 0623 - Fax +84.28. 3985 3579
Địa chỉ: Phòng 306, Tòa nhà Licogi 13-B, 164 Khuất Duy Tiến, Quận Thanh Xuân, Tp. Hà Nội
ĐT: +84. 24. 3791 5881 Fax: +84. 24. 3791 5881
Hệ thống đang xử lý, vui lòng chờ