Kiểm tra- Thử nghiệm

Máy phân tích lớp phủ model XStrata920 bằng phương pháp XRF

Máy phân tích lớp phủ XRF model XStrata920 được thiết kế để phân tích/ đo độ dày lớp phủ của một hay nhiều lớp - bao gồm cả lớp phủ hợp kim - trong ngành công nghiệp và điện tử.
Hãng sản xuất: Hitachi High-Tech

     Máy đo độ dày xray (máy phân tích độ dày lớp phủ) dựa trên phương pháp huỳnh quang tia X (XRF) là một kỹ thuật đã được chứng minh cung cấp kết quả phân tích nhanh, chính xác và không phá hủy.

     X-Strata 920 được thiết kế để đo lớp phủ đơn lớp và đa lớp- bao gồm các lớp phủ hợp kim- cho cả ngành công nghiệp hoàn thiện kim loại và điện tử. Các chuyên gia nghiên cứu ứng dụng của Hitachi đã tối ưu hóa X-Strata920 để đảm bảo bạn có được kết quả đáng tin cậy cho hàng trăm ứng dụng bao gồm hoàn thiện bề mặt PCB, lớp phủ xi mạ công nghiệp.

     X-Strata920 cung cấp kết quả chính xác và đáng tin cậy trong mỗi Micron.

Video demo được thực hiện bởi hãng Hitachi đo ứng dụng Au/Ni/Cu trên thiết bị Xstrata920

Liên hệ với chúng tôi để được nhân viên kỹ thuật hỗ trợ:

Trụ Sở Chính: 23 Nguyễn Thái Sơn (số mới là 209 Bạch Đằng), P.3, Quận Gò Vấp, Thành Phố Hồ Chí Minh

Điện Thoại: +84. 28.3894 0623 - Fax +84.28. 3985 3579

Địa chỉ: Phòng 306, Tòa nhà Licogi 13-B, 164 Khuất Duy Tiến, Quận Thanh Xuân, Tp. Hà Nội

ĐT: +84. 24. 3791 5881 Fax: +84. 24. 3791 5881

  • Phạm vi nguyên tố có thể phát hiện: Ti to U (PC Detector) hoặc AL to U (SDD Detector).
  • Số lớp & phần tử: khả năng đo tối đa 4 lớp phủ/ 1 lớp nền. Phân tích phổ của tối đa 25 nguyên tố cùng một lúc.
  • Nguồn Tia X: 50W.
  • Bộ đếm (Detector): PC hoặc SDD.
  • Collimator: Ống đơn hoặc đa (có thể được trang bị 1-6 ống collimator). Kích thước khác nhau đáp ứng theo yêu cầu từ khách hàng (minimum 0.025x0.05mm)
  • Focus: Lazer , lấy nét tốt hơn phương thức lấy nét bằng camera.
  • Bộ lọc thứ cấp: Tối đa 3 bộ lọc để hiệu chỉnh chồng chéo (Vanadi, Cobalt và Niken).(chỉ dành cho PC detector)
  • Xử lý xung kỹ thuật số: Máy phân tích đa kênh kỹ thuật số 4096 kênh. Xử lý tín hiệu tự động.
  • Camera quan sát: Có.
  • Phần mềm: SmartLink FP.
  • Ngôn ngữ: tiếng Anh, tiếng Trung (truyền thống và đơn giản hóa), tiếng Pháp, tiếng Đức, tiếng Tây Ban Nha, tiếng Nhật, tiếng Hàn, tiếng Ý, tiếng Séc và tiếng Nga
  • Máy tính: CPU Intel Core 2 Duo E7500 2,93 GHz; Đĩa cứng 500Gb, RAM 2Gb; DVDRW. Hệ điều hành Microsoft WindowsTM.
  • Nguồn cung cấp: 85 ~ 130 volt hoặc 215 ~ 265 volt, với dải tần từ 47Hz đến 63Hz.
  • Môi trường làm việc: 10 ° C (50 ° F) đến 40 ° C (104 ° F) và độ ẩm tương đối lên đến 98%, không ngưng tụ.
  • Cấu hình có sẵn: 
    Standard (cho các bộ phận có chiều cao mẫu 33 mm)
    Mini-Well (đối với các bộ phận có chiều cao mẫu 160 mm)
    X-Y Table: hành trình dịch chuyển: 178 mm x 178 mm.
    Trục Z di chuyển trên tất cả các cấu hình: 43 mm.
  • Kích thước (W x L x H): 
    Standard 407 x 770 x 305 mm.
    Mini-Well 407 x 770 x 400 mm.
    X-Y Table 610 x 1037 x 375 mm.
    Lưu ý: Kích thước trên không có PC và màn hình.
  • Trọng lượng: 97kg (không có PC và màn hình).
  • Máy đo độ dày lớp xi mạ
  • Đo nồng độ dung dịch mạ

Download File

STT
File Download
Sản Phẩm đã xem

Hệ thống đang xử lý, vui lòng chờ