Thiết bị phân tích huỳnh quang tia X (XRF)- Model XGT-7200

Kính hiển vi phân tích tia X có khả năng phân tích đơn điểm và chụp ảnh siêu phổ tự động. Chế độ chân không kép. Kích thước điểm từ 1,2 mm đến 10 µm.

  • Độ phân giải không gian cao nhất
  • Chụp ảnh lập bản đồ truyền tia X
  • Chế độ chân không kép
  • Toàn bộ dải kích thước mẫu
  • Phần mềm tích hợp thu thập và phân tích dữ liệu

Product Downloads

Download Language File Type
XGT-7200 Brochure English PDF
XGT Series English PDF

Google+

Liên Hệ

Liên hệ với chúng tôi để được tư vấn về Sản phẩm và các Giải pháp kỹ thuật