Kiểm tra- Thử nghiệm

Thiết bị phân tích bề mặt tốc độ cao không tiếp xúc CCI MP-HS

Lý tưởng cho việc nghiên cứu, CCI MP-HS đo tất cả các thông số bề mặt từ rất nhám đến rất bóng, cung cấp khả năng đo linh hoạt trên nhiều loại mẫu khác nhau
  • Độ phân giải cao đến 1048 x 1048 pixel với góc quan sát rộng
  • Công nghệ đính ghép hình ảnh cao cấp cho các trục X, Y và Z, mở rộng dải đo
  • Độ lặp lại hiệu dụng (RMS) <0.2 ångström, Độ lặp lại trên mẫu bậc <0.1%
  • Tích hợp bàn chống rung, giảm thiểu các tín hiệu nhiễu tạp, tối ưu hóa hiệu suất cho hệ thống
  • Phần mềm điều khiển và phân tích Windows 64-bit đa ngôn ngữ
System CCI MP-HS
Measurement type 3D non-contact
Measurement mode Coherence Correlation Interferometry (CCI)
Z scanner Ultra high precision closed loop piezoless scanner
Objective mount 3 position turret
X/Y Stage Automatic
Z stage Automatic
Performance
Single scan range (Z) 2.2 mm as standard (closed loop)
Z-stitching range Up to the working distance of the lens (current maximum is 40 mm)
Z-resolution (max) 0.01 nm
Noise floor (Z) <0.05 nm [0.5 Å]
Repeatability of surface RMS <0.01 nm [0.1 Å]
Number of measurement points 1024 x 1024
Step height repeatability <0.02%
Surface reflectivity <0.34 % - 100%

Download File

STT
File Download
Sản Phẩm đã xem

Hệ thống đang xử lý, vui lòng chờ