Kiểm tra- Thử nghiệm

Thiết Bị Siêu Âm Khuyết Tật Kim Loại Công Nghệ Mảng Điều Pha Model Mentor UT 32:32PR hoặc 32:128PR

Kiểm tra khuyết tật các loại vật liệu kim loại và phi kim loại (Composite). Kiểm tra tấm phẳng và ống có đường kính từ 1.5 inch trở lên Tương thích đầu dò của nhiều hãng sản xuất Quy trình kiểm tra cho nhiều ứng dụng được thiết lập sẵn và cập nhật miễn phí

Thiết bị siêu âm mảng điều pha thông minh (hay còn gọi là Thiết bị siêu âm khuyết tật, Siêu âm mối hàn, Siêu âm mảng điều pha, Siêu âm khuyết tật, Siêu âm Công nghiệp, Siêu âm mảng thông minh, Siêu âm mảng DM, Phase array, PA UT, Smart PA UT) được sử dụng ngày càng phổ biến để kiểm tra khuyết tật trong vật liệu và đang thay thế dần cho phương pháp chụp ảnh bức xạ (Radiography Testing - RT)

  • Kiểm tra khuyết tật các loại vật liệu kim loại và phi kim loại (Composite)
  • Kiểm tra tấm phẳng và ống có đường kính từ 1.5 inch trở lên
  • Sử dụng màn hình màu cảm biến đa điểm (Tuchscreen - Multi-Touch) với độ phân giải cao, phù hợp cho nhiều môi trường làm việc trong nhà và ngoài trời
  • Hiển thị kết quả đồng thời A-Scan, B-Scan (E-Scan), C-Scan, C-Scan Overview và các giá trị đo
  • Tương thích với các loại đầu dò cho từng ứng dụng chuyên biệt
  • Sử dụng đồng thời hai loại đầu dò Phased Array và Conventional trên cùng một ứng dụng
  • Hiển thị đồng thời 15 giá trị đọc phân tích cho các ứng dụng
  • Chế độ quét 1 đầu dò PA hoặc 2 đầu dò song song
  • Phần mềm nâng cấp tự động cập nhật và miễn phí
  • Các ứng dụng kiểm tra được thiết lập và dowload miễn phí trên website của hãng

 

THÔNG SỐ KỸ THUẬT CHUNG

  • Kích thước máy: 295 mm x 230 mm x 60 mm
  • Khối lượng: 2.9kg
  • Kích thước màn hình: 264 mm (10.4")
  • Độ phân giải: 1024 x 768 pixels
  • Góc nhìn: ±85° cho mọi hướng
  • Lưu trữ: bộ nhớ trong 16GB và qua cổng USB 2.0
  • Dữ liệu: kết nối và chia sẻ dữ liệu qua mạng nội bộ, mạng Internet và Wi-Fi
  • Công giao tiếp: USB, Ethernet, WiFi
  • -Xuất báo cáo dạng JPG, PDF, CSV
  • Tích hợp bộ mã hóa trục X, Y kỹ thuật số trên màn hình hiển thị
  • Nguồn cung cấp: 100 to 240 VAC, 47–63 Hz, 1.9 A; 12VDC
  • Thời gian hoạt động với pin: 3 giờ, 9 giờ với pin mở rộng (có thể thay nóng khi đang hoạt động)
  • Nhiệt độ làm việc: -20°C đến 55°C
  • Cấp bảo vệ: IP65
  • Phù hợp tiêu chuẩn: MIL-STD-810G Method 501.5 & 502.5, Procedure I, II và V
  • Số biến tử hoạt động: 32
  • Độ mở chùm tia: 1-32  (1-128 với MUX Module)
  • Số biến tử tối đa: 32 (128 với MUX Module)
  • Luật hội tụ: 1024
  • Chế độ quét: Linear, Sector, focused
  • Hình dạng xung: Bipolar Square Wave
  • Điện áp: 20–150 in 5 V steps
  • Độ rộng xung: (auto or manual) 50–3000 nS
  • Độ trễ: bước tăng dần 10 nS
  • Độ khuyếch đại: 0–78 dB in 0.2 dB steps
  • Số TCG: 16 điểm
  • Slope 50 dB/μS
  • Dạng xung: full, nửa xung trên, nửa xung dưới, RF
  • Dải băng tần: 0.5 MHz to 15 MHz
  • Tần số lập: PRF 10 Hz to 20,000Hz
  • Tốc độ lấy mẫu: 62.5 MHz, up-sampled to 500 MHz
  • Độ trễ theo bước 2.5 nS
  • Tốc độ nhận dữ liệu: 50 nS to 150 μS
  • Điểm ảnh Ascan: 128, 256, 512, 1024, 2048, 4096
  • Bộ lọc: 1, 2, 4, 5, 7.5, 10 MHz, and Broad Band
  • Cổng đánh giá: A, B and IF
  • Kiểu đánh giá: J–Flank, Zero Before, Zero After, Peak
  • Độ khuyếch đại phương dọc: 800% FSH
  • Độ phân giải: 0.05 mm (0.002")
  • Chức năng cài đặt từ xa: IWC

THÔNG SỐ KỸ THUẬT MODULE MUX  (Nâng cấp thiết bị lên cấu hình 32:128PR)

  • Sử dụng cùng lúc 2 đầu dò 16el, 32el hoặc 64el
  • Kích thước: 218 x 213 x 104 mm (8.6 x 8.4 x 4.1 inch)
  • Khối lượng: 3 kg (6.5 lbs)
  • Nguồn cấp:
  • Pin sạc: 84 WH Lithium Ion (Thời gian sử dụng: 6 giờ và có thể thay nóng khi đang hoạt động)
  • Nguồn sạc: 100 to 240 VAC, 47–63 Hz, 1.9 A; 12VDC
  • Cấu hình:
  • Phased Array:
  • Channels 32:128 PR (hỗ trợ các tổ hợp 32:32, 32:64 và 32:128)
  •  Độ mở chùm tia (Aperture): 1-32
  •  Luật hội tụ (Focal Laws): 1024
  •  Chế độ quét: Linear, Sector, focused
  • Conventional: 1 Kênh UT (kép) pulse Echo TR (Transmit/ Receive) truyền thống (sử dung cho đầu dò thông thường và TOFD)
  • Kiểm tra khuyết tật các dạng vật liệu kim loại và phi kim loại (Composite)
  • Kiểm tra khuyết tật mối hàn các chi tiết phẳng, hình ống
  • Đo và vẽ bản đồ ăn mòn
  • Kiểm tra chất lượng ren bulông
  • Kiểm tra khuyết tật hàn trên đường ray xe lửa, trục máy, mặt bích

Download File

STT
File Download
Sản Phẩm đã xem

Hệ thống đang xử lý, vui lòng chờ