Kiểm tra- Thử nghiệm

Thiết Bị Siêu Âm Khuyết Tật Kim Loại Công Nghệ Mảng Điều Pha Model Mentor UT 32:32PR hoặc 32:128PR

Kiểm tra khuyết tật các loại vật liệu kim loại và phi kim loại (Composite). Kiểm tra tấm phẳng và ống có đường kính từ 1.5 inch trở lên Tương thích đầu dò của nhiều hãng sản xuất Quy trình kiểm tra cho nhiều ứng dụng được thiết lập sẵn và cập nhật miễn phí

Thiết bị siêu âm mảng điều pha thông minh (hay còn gọi là Thiết bị siêu âm khuyết tật, Siêu âm mối hànSiêu âm mảng điều pha, Siêu âm khuyết tật, Siêu âm Công nghiệp, Siêu âm mảng thông minh, Siêu âm mảng DM, Phase array, PA UT, Smart PA UT, NDT instrument) được sử dụng ngày càng phổ biến để kiểm tra khuyết tật trong vật liệu và đang thay thế dần cho phương pháp chụp ảnh bức xạ (Radiography Testing - RT)

  • Kiểm tra khuyết tật các loại vật liệu kim loại và phi kim loại (Composite)
  • Kiểm tra tấm phẳng và ống có đường kính từ 1.5 inch trở lên
  • Sử dụng màn hình màu cảm biến đa điểm (Tuchscreen - Multi-Touch) với độ phân giải cao, phù hợp cho nhiều môi trường làm việc trong nhà và ngoài trời
  • Hiển thị kết quả đồng thời A-Scan, B-Scan (E-Scan), C-Scan, C-Scan Overview và các giá trị đo
  • Tương thích với các loại đầu dò cho từng ứng dụng chuyên biệt
  • Sử dụng đồng thời hai loại đầu dò Phased Array và Conventional trên cùng một ứng dụng
  • Hiển thị đồng thời 15 giá trị đọc phân tích cho các ứng dụng
  • Chế độ quét 1 đầu dò PA hoặc 2 đầu dò song song
  • Phần mềm nâng cấp tự động cập nhật và miễn phí
  • Các ứng dụng kiểm tra được thiết lập và dowload miễn phí trên website của hãng

Xem thêm chi tiết thiết bị trên website của hãng sản xuất GE Baker Hughes và các trang website khác của chúng tôi:  www.mayquangpho.org ; www.ndtinstrument.com; www.spectrometer.com.vn ; www.ndt-vn.com; www.doluong.org ; www.maycongcu.org.

 

Tổng quan
Kích thước máy: 295 mm x 230 mm x 60 mm
Khối lượng: 2.9kg
Kích thước màn hình: 264 mm (10.4")
Độ phân giải: 1024 x 768 pixels
Góc nhìn: ±85° cho mọi hướng
Lưu trữ: bộ nhớ trong 16GB và qua cổng USB 2.0
Dữ liệu: kết nối và chia sẻ dữ liệu qua mạng nội bộ, mạng Internet và Wi-Fi
Công giao tiếp: USB, Ethernet, WiFi
Xuất báo cáo dạng: JPG, PDF, CSV
Tích hợp bộ mã hóa trục X, Y kỹ thuật số trên màn hình hiển thị
Nguồn cung cấp: 100 to 240 VAC, 47–63 Hz, 1.9 A; 12VDC
Thời gian hoạt động với pin: 3 giờ, 9 giờ với pin mở rộng (có thể thay nóng khi đang hoạt động)
Nhiệt độ làm việc:  -20°C đến 55°C
Cấp bảo vệ: IP65
Phù hợp tiêu chuẩn: MIL-STD-810G Method 501.5 & 502.5, Procedure I, II và V
File data: 3.5 GB (dữ liệu file cho 1 lần quét)
Số biến tử hoạt động: 32
Độ mở chùm tia: 1-32 (1-128 với MUX Module)
Số biến tử tối đa: 32 (128 với MUX Module)
Luật hội tụ: 1024
Chế độ quét: Linear, Sector, focused
Hình dạng xung: Bipolar Square Wave
Điện áp: 20–150 in 5 V steps
Độ rộng xung: (auto or manual) 50–3000 nS
Độ trễ: bước tăng dần 10 nS
Độ khuyếch đại: 0–78 dB in 0.2 dB steps
Số TCG: 16 điểm
Slope 50 dB/μS
Dạng xung: full, nửa xung trên, nửa xung dưới, RF
Dải băng tần: 0.5 MHz to 15 MHz
Tần số lập: PRF 10 Hz to 20,000Hz
Tốc độ lấy mẫu: 62.5 MHz, up-sampled to 500 MHz
Độ trễ theo bước: 2.5 nS
Tốc độ nhận dữ liệu: 50 nS to 150 μS
Điểm ảnh Ascan: 128, 256, 512, 1024, 2048, 4096
Bộ lọc: 1, 2, 4, 5, 7.5, 10 MHz, and Broad Band
Cổng đánh giá: A, B and IF
Kiểu đánh giá: J–Flank, Zero Before, Zero After, Peak
Độ khuyếch đại phương dọc: 800% FSH
Độ phân giải: 0.05 mm (0.002")
Chức năng cài đặt từ xa: IWC
THÔNG SỐ KỸ THUẬT MODULE MUX  (Nâng cấp thiết bị lên cấu hình 32:128PR)
Sử dụng cùng lúc 2 đầu dò 16el, 32el hoặc 64el
Kích thước: 218 x 213 x 104 mm (8.6 x 8.4 x 4.1 inch)
Khối lượng: Khối lượng: 3 kg (6.5 lbs)
Nguồn cấp:
Pin sạc: Pin sạc: 84 WH Lithium Ion (Thời gian sử dụng: 6 giờ và có thể thay nóng khi đang hoạt động)
Nguồn sạc: Nguồn sạc: 100 to 240 VAC, 47–63 Hz, 1.9 A; 12VDC
Cấu hình:  
Phased Array:
Channels : 32:128 PR (hỗ trợ các tổ hợp 32:32, 32:64 và 32:128)
Độ mở chùm tia (Aperture): 1-32
Luật hội tụ (Focal Laws): 1024
Chế độ quét: Linear, Sector, focused
Conventional: 1 Kênh UT (kép) pulse Echo TR (Transmit/ Receive) truyền thống (sử dung cho đầu dò thông thường và TOFD)
  • Kiểm tra khuyết tật các dạng vật liệu kim loại và phi kim loại (Composite)
  • Kiểm tra khuyết tật mối hàn các chi tiết phẳng, hình ống
  • Đo và vẽ bản đồ ăn mòn
  • Kiểm tra chất lượng ren bulông
  • Kiểm tra khuyết tật hàn trên đường ray xe lửa, trục máy, mặt bích

Download File

STT
File Download
Sản Phẩm đã xem

Hệ thống đang xử lý, vui lòng chờ