Kiểm tra- Thử nghiệm

Máy phân tích thành phần kim loại cầm tay Model XMET8000 Optimum

Máy phân tích thành phần kim loại cầm tay mở rộng phạm vi phân tích cho nguyên tố nhẹ (Mg, Al, Si, P, S) cho các loại hợp kim khác nhau như hợp kim Nhôm, hợp kim Đồng, hợp kim Kẽm, hợp kim thép không gỉ, hợp kim crom, hợp kim niken. Ngoài ra, thiết bị có chương trình chuyên phân tích các chất độc hại RoHS, phân tích kim loại quý (Au,Ag,Pt).
Hãng sản xuất: Hitachi High-Tech

Thiết bị phân tích kim loại XRF di động hay còn gọi là Thiết bị phân tích thành phần huỳnh quang tia X đang được sử dụng ngày càng nhiều để kiểm tra nhanh thành phần hóa học của các nguyên tố trong kim loại, phân loại nhanh các loại hợp kim...

Khác với các dòng máy tương tự của các hãng sản xuất khác, thiết bị của hãng Hitachi High-Tech sử dụng các công nghệ tối ưu như Bộ xử lý ARM Cortex A8, Hệ điều hành LINUX, Cảm biến Detector SDD…Hãng Hitachi cũng tích hợp sẵn 1 cơ sở dữ liệu mác vật liệu Grade Database với khoảng 1500 mác (có thể cập nhật thêm).

  • Thiết bị XMET8000 Optimum là thiết bị phân tích hợp kim cầm tay dùng phương pháp huỳnh quang tia X (XRF) giúp phân tích nhanh, không phá hủy và kết quả chính xác cho việc kiểm soát, đảm bảo chất lượng sản xuất.
    Sự kết hợp của một ống phát tia X-ray hiệu suất cao và đầu dò detecter (SDD) mang lại hiệu quả cần thiết cho những ứng dụng QA/QC khắt khe nhất.
    Với XMET8000 bạn nhận được kết quả chính xác trong vài giây, giảm chi phí và thời gian thử nghiệm. 
  • Thiết bị XMET8000 được thiết kế hiệu suất tối ưu, dễ sử dụng và chính xác. Quản lý dữ liệu mạnh mẽ. Thư viện lớp mở rộng, có thể tùy chỉnh.
  • Tích hợp các thư viện mác vật liệu lớn nhất trên thị trường
  • Tiêu chuẩn bảo vệ IP54 giúp máy làm việc trong môi trường khắc nghiệt, kháng nước, kháng bụi.
  • Người sử dụng có thể lựa chọn các thư viện theo các tiêu chuẩn như: AISI, DIN, JIS và GB 
  • Phân tích được các nguyên tố siêu nhẹ (Mg, Al, Si, P, S) mà không cần chất tẩy heli hoặc bơm chân không.
  • Mẫu kiểm tra CRM đi kèm để xác nhận khả năng hoạt động ổn định và chính xác của thiết bị XMET8000 trong mọi thời điểm.
  • Xem thêm chi tiết thiết bị trên website của hãng sản xuất Hitachi
Tổng quan
Thiết bị phân tích: huỳnh quang tia X (EDXRF) cầm tay.
Detector: SDD độ phân giải cao
Ống phát tia:  Rh (4W, 50kV,200μA max.)
Thay thế bộ lọc 5 vị trí tự động
Kích thước điểm phân tích:  10.7mm x 9.4mm
Nhiệt độ làm việc:  -10 °C to +50 °C
Màn hình và hệ thống
Màn hình:  Màn hình cảm đa điểm 4.3”
Độ phân giải:  480 (H) x 800 (V) dots
Bộ nhớ trong: 16 GB bộ nhớ trong
Khả năng lưu trữ:  100.000 kết quả bao gồm quang phổ và hình ảnh (nếu máy ảnh được trang bị) 
kết nối: Bluetooth, WiFi và USB truyền dữ liệu 
Giao diện đồ họa người dùng có sẵn với 13 ngôn ngữ: Giao diện đồ họa người dùng có sẵn với 13 ngôn ngữ: Tiếng Trung Quốc truyền thống và đơn giản hóa, Anh, Phần Lan, Pháp, Đức, Ý, Nhật Bản, Hàn Quốc, Ba Lan, Bồ Đào Nha, Tây Ban Nha và Nga.
Hiệu chuẩn
Hiệu chuẩn tùy chọn:  FP mạnh mẽ được cài đặt sẵn tại nhà máy và hiệu chuẩn thực nghiệm có giá trị đối với các ứng dụng khác nhau bao gồm các kim loại và kim loại quý trong chất xúc tác ngành công nghiệp xe hơi
Hiệu chuẩn theo tiêu chuẩn:  Hiệu chuẩn theo nhu cầu của khách hàng với phần mềm hiệu chuẩn tùy chọn
Dải phân tích
Từ Mg đến U, lên đến 35 nguyên tố tùy thuộc vào ứng dụng
Pin
Pin: Pin sạc, có thể tháo rời, kích thước nhỏ gọn 
Pin 6.2Ah Li-ion (Số lượng: 2) 
Tuổi thọ pin lên đến:  10-12 giờ  
Bộ sạc pin:  110 / 230V 50/60 Hz
An toàn bức xạ
Bảo vệ bằng mật khẩu
Cảm biến tiệm cận:  hồng ngoại 
Cảm biến tốc độ đếm
Cảnh báo: Đèn cảnh báo không an toàn
Bảo quản và vận chuyển
Vali: chống nước và ngăn bảo quản  cho máy chính và các phụ kiện 
Kích thước vali:  415 mm (L) x 325mm (W) x 170mm (H) 
Dây đeo:  vai/ cổ tùy chọn
Tùy chọn:  bao da  và dây đeo
Phụ kiện tiêu chuẩn:
Mẫu: Mẫu kiểm tra SS316
Sạc: Sạc pin với các chân cắm theo tiêu chuẩn Anh, Mỹ, Châu Âu và Úc (Thời gian sạc: khoảng 8h)
Pin: Hai pin Li-ion
Cáp: kết nối USB
Thẻ nhớ: USB bao gồm hướng dẫn sử dụng và vận hành an toàn ( với 13 ngôn ngữ )
Lá chắn: Màng chắn tia bức xạ
Phụ kiện tùy chọn
Đầu chụp bảo vệ để bắn mẫu theo phương thẳng
Tấm nền chống tán xạ
Bộ giá đỡ đứng (trọng lượng: 9.5kg, kích thước buồng: 188mm Lx 188mm W x 146mm H) 
Kết nối WiFi 
Kết nối Bluetooth 
Máy quét mã vạch Bluetooth 
Máy in Bluetooth
Camera tích hợp tùy chọn
Đối với các vị trí chính xác cần phân tích trên mẫu
Hình Ảnh: Hình ảnh có thể được lưu lại, xem trên màn hình X-MET, và được bổ sung vào báo cáo 
Độ phóng đại:  Độ phóng đại: x 6 
Kích thước hình ảnh:  Kích thước hình ảnh: 640 pixels x 480 pixels 
Kích thước hình ảnh về mẫu:  Kích thước hình ảnh về mẫu: khoảng 7.5mm x 6mm 
Công nghệ máy ảnh:  Công nghệ máy ảnh: CMOS 
Bộ thu GPS tích hợp tùy chọn
Thu thập và lưu vị trí tọa độ cùng với kết quả phân tích 
Vị trí chính xác:  3,0 m CEP 
Cổng kết nối
USB:  2.0
Bluetooth:  2.0 (EDR)
Wifi:  802.11b/g
Phần mềm (Tiêu chuẩn)
Hiện thị phổ:  Cho phép lựa chọn điều kiện phân tích, thu thập, xem và so sánh phổ của các mẫu
Xuất báo cáo:  Cho phép tạo ra các báo cáo tùy chỉnh theo ý người sử dụng
Tùy chọn chức năng phần mềm máy tính: 
Phần mềm hiệu chỉnh - cho phép người sử dụng để tạo ra một hiệu chuẩn thực nghiệm tùy chỉnh bằng cách sử dụng các tiêu chuẩn của khách hàng đối với các ứng dụng duy nhất
Độ bền
CE và CB đã được phê duyệt 
Cấp bảo vệ IP54 ( tương đươngNEMA 3): Cấp bảo vệ IP54 ( tương đương NEMA 3): nước bắn vào và chống bụi 
Sản phẩm: Sản phẩm: Bảo hành máy 1 năm; không bao gồm vật tư tiêu hao; Bảo hành 90 ngày đối với pin. 
Phân tích mẫu nhiệt độ cao
Nhiệt độ mẫu tối đa:  120⁰C (248⁰F) Ở nhiệt độ đó, thời gian phân tích không quá 10 giây, và cho phép phân tích để nguội trong 2 phút giữa các lần phân tích. 
Kích thước - trọng lượng
Kích thước 93 mm (W) x 210 mm (L) x 272 mm (H)
Trọng lượng 1.3 kg không bao gồm Pin
1.5 kg bao gồm cả Pin

Các ứng dụng phân tích trong máy Xmet8000 Optimum 

  • Hợp kim Nhôm
  • Hợp kim Đồng,
  • Hợp kim Kẽm,
  • Hợp kim thép không gỉ
  • Hợp kim crom
  • Hợp kim niken.

Phân tích các chất độc hại RoHS,

Phân tích kim loại quý (Au,Ag,Pt)

Option chương trình đo độ dày lớp mạ (1 lớp)

Sản Phẩm đã xem

Hệ thống đang xử lý, vui lòng chờ