Kiểm tra- Thử nghiệm

Thiết bị đo độ nhám cầm tay có hiển thị phổ Surtronic S-100 Series

Là thiết kế mới nhất của dòng đo độ nhám cơ bản Surtronic, kết hợp màn hình màu cảm ứng 4.3” và pin sạc với khả năng đo liên tục đến 2000 lần.
  • Tùy chọn các thông số đo cao cấp để phù hợp với các ứng dụng
  • Kết nối USB để sạc pin, in ấn và lưu trữ bằng thẻ nhớ ngoài với dung lượng không giới hạn
  • Khả năng đo trên nhiều bề mặt và có thể nâng hạ đầu đo dễ dàng
  • Đế cao su chữ V giúp thiết bị bám chặt trên bề mặt cong cũng như phẳng
  • Lớp vỏ cao su bao bọc bên ngoài thiết bị bảo vệ chống va đập
  • Đo 2000 lần cho 1 lần sạc đầy pin
  • Đáp ứng các tiêu chuẩn ISO 4287, ISO 13565-1, ISO 13565-2, ASME 46.1, JIS 0601, N31007
Technical S-116 S-128
Languages Basic  English, French, German, Italian, Spanish
Extended Czech, Portuguese, Romanian, Hungarian, Swedish, Russian
Asian Japanese
Data output On-screen up to 7 results per page, selectable on-screen graph with XZ axis
Printer Output settings, results and high resolution profile graph
PC Connection Full data analysis with Talyprofile
Data storage Internal 100 measurement results, 1 raw profile
USB (4GB supplied) >39,000 raw profiles, up to 100,000 results per batch (>70 batches)
PC connection Unlimited data storage
SPC / stats Internal Optional Min, Max, Mean, StdDev of stored results
USB (4GB supplied) Optional ASCII export of all results for SPC
PC connection full SPC and tollerancing of all parameters using Talyprofile software
Battery Charger USB 5v 1A 110-240VAC 50/60Hz
Charging time 4 hours
Battery life  2000 measurements
Standby time 5000 hours
InstantOn max 1 sec from standby to ready to measure
Auto sleep function 30 sec - 6 hours

 

Measurement capability  S-116  S-128
Gauge  Range  200 µm / 100 µm / 10 µm  400 µm / 100 µm / 10 µm
Resolution  100 nm / 20 nm / 10 nm  50 nm / 10 nm / 5 nm
Noise floor (Ra)  250 nm / 150 nm / 100 nm  150 nm / 100 nm / 50 nm
Repeatability (Ra)  1 % of value + noise  0.5 % of value + noise
Pickup type  Inductive
Gauge force  150-300 mg
Stylus tip radius  5 µm (200 µin) default / 2 µm (80 µin) or 10 µm (400 µin) optional
Measurement type  Skidded
Calibration  Process  Automated software calibration routine
Standards  Able to calibrate to ISO 4287 roughness standards
Analysis  Filter cut-off  0.25 mm / 0.8 mm / 2.5 mm
Filter type  2CR / Gaussian
Evaluation length  0.25 mm - 17.5 mm (0.01 in - 0.70 in)  0.25 mm - 25.0 mm (0.01 in - 1.00 in)
Max X axis range  17.5 mm  25.5 mm
Speed  Measuring speed  1 mm / sec (0.04 in / sec)
Returning speed  1.5 mm / sec (0.06 in / sec)

 

Download File

STT
File Download
Sản Phẩm đã xem

Hệ thống đang xử lý, vui lòng chờ