Máy đo độ dày lớp phủ, lớp sơn và phân tích thành phần để bàn FT230 đã được thiết kế để giảm đáng kể thời gian thực hiện phép đo.
Máy đo chiều dày lớp phủ, lớp sơn và phân tích thành phần dựa trên phương pháp huỳnh quang tia X (XRF) là một kỹ thuật đã được chứng minh cung cấp kết quả phân tích nhanh, chính xác và không phá hủy.
Các chuyên gia nghiên cứu ứng dụng của Hitachi High-Tech đã tối ưu hóa FT230 để đảm bảo bạn có được kết quả đáng tin cậy cho hàng trăm ứng dụng bao gồm hoàn thiện bề mặt PCB, lớp phủ xi mạ công nghiệp.
Mọi yếu tố của FT230 đều được thiết kế để giảm đáng kể thời gian phân tích.
FT210 benchtop XRF analyzer | FT230 benchtop XRF analyzer | |
Element range | Ti (22) - U (92) | Al (13) - U (92) |
Detector | Proportional counter | Silicon drift detector (SDD) |
Chamber design | Slotted or closed | Slotted or closed |
XY stage design | Motorized or fixed | Motorized or fixed |
XY stage travel | 250 x 200 mm | 250 x 200 mm |
Motorized Z-axis travel | 205 mm | 205 mm |
Largest sample size | 500 x 400 x 150 mm | 500 x 400 x 150 mm |
Number of collimators | 4 | 4 |
Focus laser | Included as standard | Included as standard |
Automated focus | Option | Option |
Wide-view camera | Option | Option |
Distance-independent measurement | Option | Option |
Find My Part™ smart recognition | Option | Option |
Coatings analysis | ✔️ | ✔️ |
RoHS screening | n/a | ✔️ |
Software | FT Connect | FT Connect |
Hãy liên hệ với đội ngũ chuyên gia của chúng tôi để nhận được sự tư vấn miễn phí và chuyên nghiệp