Thiết bị đo chiều dày lớp phủ Bowman - O SERIES XRF

Phân tích không phá hủy nhanh trong vài giây. Phân tích thành phần đồng thời lên đến 25 phần tử. Đo tối đa 5 lớp phủ đồng thời, bất kì 2 trong số đó có thể l...

Liên hệ
  • Phân tích không phá hủy nhanh trong vài giây.
  • Phân tích thành phần đồng thời lên đến 25 phần tử.
  • Đo tối đa 5 lớp phủ đồng thời, bất kì 2 trong số đó có thể là hợp kim.
  • Thiết lập và vận hành dễ dàng – 1 kết nối cáp USB.
  • Dùng trong đo dộ dày lớp phủ, phân tích nguyên tố, đo độ mạ.
  • Bảng điều khiển đơn giản.
  • Nhỏ và trọng lượng nhẹ.
  • Phạm vi phân tích chính xác từ Nhôm 13 đến Uranium 92 (Al 13 – U 92).
  • Sử dụng 1 ống tia X tập trung, 1 Solid State Pin Diode và SSD  Detectors cung cấp độ phân giải, độ ổn định, độ nhạy cao hơn.
  • Sản xuất tại Mỹ, Chicago, IL.

Product Downloads

Download Language File Type
Bowman_Brochure English PDF
Bowman_Brochure Vietnamese PDF
Google+

Liên Hệ

Liên hệ với chúng tôi để được tư vấn về Sản phẩm và các Giải pháp kỹ thuật