Hệ thống phân tích bề mặt kính quang học không tiếp xúc (CCI Optics)

Hệ thống đo và phân tích bề mặt 3D không tiếp xúc CCI Optic được thiết kế đặc biệt cho các ứng dụng kiểm tra kính quang học dựa trên lý thuyết giao thoa sóng...

Liên hệ
  • Độ phân giải cao đến 2048 x 2048 pixel với góc quan sát rộng
  • Độ phân giải 0.1 ångström cho toàn bộ phạm vi đo
  • Đo trên bề mặt phản xạ từ 0.3% đến 100% một cách dễ dàng
  • Độ lặp lại hiệu dụng (RMS) <0.2 ångström, Độ lặp lại trên mẫu bậc <0.1%
  • Phần mềm điều khiển và phân tích 64-bit đa ngôn ngữ

Product Downloads

Download Language File Type
CCI Optics Brochure English PDF
Google+

Liên Hệ

Liên hệ với chúng tôi để được tư vấn về Sản phẩm và các Giải pháp kỹ thuật