Hoặc chọn các danh mục bên dưới →


Hệ thống đo sai lệch biên dạng kính quang học không tiếp xúc (Luphos series)

LuphoScan là hệ thống đo quét giao thoa dựa trên công nghệ MWLI® (giao thoa đa sóng). Hệ thống được thiết kế đo 3D không tiếp trên bề mặt các loại kính quang...


Hệ thống phân tích bề mặt kính quang học không tiếp xúc (CCI Optics)

Hệ thống đo và phân tích bề mặt 3D không tiếp xúc CCI Optic được thiết kế đặc biệt cho các ứng dụng kiểm tra kính quang học dựa trên lý thuyết giao thoa sóng...


Hệ thống phân tích bề mặt không tiếp xúc phổ thông (CCI MP)

Hệ thống đo và phân tích bề mặt 3D không tiếp xúc CCI MP là dòng phổ thông cho các ứng dụng đo bề mặt đánh bóng đến


Hệ thống phân tích bề mặt độ phân giải cao không tiếp xúc (CCI HD)

Được thiết kế để sử dụng trong các nhà máy sản xuất và nghiên cứu, CCI HD có thể đo được chiều dày mỏng đến 1.5 micron và phân tích lớp phủ đến 50nm


Hệ thống phân tích bề mặt tốc độ cao không tiếp xúc (CCI MP-HS)

Lý tưởng cho việc nghiên cứu, CCI MP-HS đo tất cả các thông số bề mặt từ rất nhám đến rất bóng, cung cấp khả năng đo linh hoạt trên nhiều loại mẫu khác nhau


Liên Hệ

Liên hệ với chúng tôi để được tư vấn về Sản phẩm và các Giải pháp kỹ thuật